OptoWave 40

  • 概述 +


    Optowave 40是一款全功能干涉仪,可以提供光学元件和组件的平面或球面以及透射波前的非接触式测量。Optowave 40非常适用于测量各种光学元件,包括但不限于隐形眼镜、人工晶体和模具插件。可以使用简单的基本视觉条纹检查、IntelliPhaseTM静态空间载波分析或相位调制干涉图分析进行测量。Optowave 40价格相当实惠,可灵活处理当今的应用。

    光学元件和组件的非接触和透射波前测量

    应用

    – 小型光学元件的传输和表面测试
    – 测量光学器件、机加工零件、陶瓷、半导体和晶圆
    – 集成的ROC测量

    主要特点和优点

    – 6倍变焦,用于测量小至0.5毫米直径的零件
    – 3种干涉图分析模式 - 相移

    IntelliPhaseTM - 静态空间载波分析或条纹跟踪(自动或手动)
    – 小尺寸和小巧外形设计可轻松集成到OEM系统中
    – 紧凑、结实的设计
    – 从F/0.7到F/6.0的透射球


  • IntelliWave软件功能 +


    - 相移或静态采集和分析

    - 峰谷比、RMS测量值、斯特列尔比

    - Zernike和Seidel分析

    - 衍射分析(PSF、MTF、环围能量)

    - 几何分析(几何点图、环围能量)

    - 工厂车间应用的自动化

    - 针对嘈杂数据的光焦度过滤和平均功能

    – 与MATLABTM、IDLTM、MS ExcelTM 和LabVIEWTM的接口

    – IntelliPhaseTM– 静态空间载波分析



  • 产品介绍手册 +