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OptoWave 40

Optowave 40 intereferometer

  • 概述 +


    Optowave 40是一款全功能干涉仪，可以提供光学元件和组件的平面或球面以及透射波前的非接触式测量。Optowave 40非常适用于测量各种光学元件，包括但不限于隐形眼镜、人工晶体和模具插件。可以使用简单的基本视觉条纹检查、IntelliPhase™静态空间载波分析或相位调制干涉图分析进行测量。Optowave 40价格相当实惠，可灵活处理当今的应用。

    光学元件和组件的非接触和透射波前测量

    应用
    • 小型光学元件的传输和表面测试
    • 测量光学器件、机加工零件、陶瓷、半导体和晶圆
    • 集成的ROC测量
    主要特点和优点
    • 6倍变焦，用于测量小至0.5毫米直径的零件
    • 3种干涉图分析模式 - 相移, IntelliPhase™ - 静态空间载波分析或条纹跟踪（自动或手动）
    • 小尺寸和小巧外形设计可轻松集成到OEM系统中
    • 紧凑、结实的设计
    • 从F/0.7到F/6.0的透射球


  • IntelliWave软件功能 +


    Optowave IntelliWave software
    • 相移或静态采集和分析
    • 峰谷比、RMS测量值、斯特列尔比
    • Zernike和Seidel分析
    • 衍射分析（PSF、MTF、环围能量）
    • 几何分析（几何点图、环围能量）
    • 工厂车间应用的自动化
    • 针对嘈杂数据的光焦度过滤和平均功能
    • 与MATLAB™、IDL™、MS Excel™、和LabVIEW™的接口
    • IntelliPhase™ – 静态空间载波分析


  • 配置与选项 +


    配置
    • 垂直和水平
    • 静态或相移
    • 曲率半径
    配件
    • 参考光学
    • 视频打印机
    • 台式机
    计算机工作站
    • 为最先进的计算机工作站预安装IntelliWave™软件
    • 所有硬件接口预安装整套Optowave 40干涉仪数据采集
    IntelliWave™软件
    • 有5个多项式集可供选择
    • 衍射和几何分析
    • 导数和积分
    • 复杂的掩蔽，包括无限的掩蔽组
    • 基准和图像转换
    • 测量：波前、楔形、角度、棱镜、三平面测试、双球面测试、均匀性
    • 接口：MATLAB™, IDL™, LabVIEW™, Excel™
    • 静态空间载体分析


    Optowave 40 reference optics
    参考光学
      TS RS TF
    F/# 0.7 1.0 2.0 3.0 4.0 6.0 6.5 40
    直径（毫米） 40 40  
    精度 λ/10 λ/15 λ/20

  • 技术规格 +


    Optowave 40 dimensional drawing
    系统
    技术 相转移和/或IntelliPhase™
    试验束 38毫米
    变焦 6倍，手动
    聚焦 +/- 1.5 毫米，手动
    强度 旋转式拨号
    校准 简单双点对准
    调整视图 +/- 1.5 度
    工件视图 电脑屏幕上的实时视屏
    性能1
    可重复性的3-平面2 λ/300 PV
    RMS 重复性3 ≤1Å
    校准精度 λ/100
    高分辨率 λ/8000
    空间分辨率 640x480
    边缘分辨率 180 边缘
    数字化 8 bits
    数据采集时间 <300 毫秒
    平均模式 强度和相位
    激光光束
    来源 氦氖，632.8纳米，< 1 mw （其他可用波长）
    极化 直线的
    连贯性 ≥100 米
    电力 110/240 伏，50/60 赫兹，50 瓦
    机械的
    尺寸 140 x 165 x 254 毫米
    重量 7.25 千克
    环境要求4
    温度 15-30°C
    温度变化率 <1.0°C/15 分钟
    湿度 相对于5%—95%，无冷凝
    隔振 要求频率由1-120赫兹
    Laser warning

    在使用设备之前一定要阅读使用说明

    1) 自由振动环境随着温度变化< 1摄氏度/15分钟，在20 - 23摄氏度之间，没有上升暖气流
    2) 每组32个平均值的3 - 平面试验的3 sigma重复性
    3) 128个数据集的rms的3 sigma，每个数据集的平均值为32个测量值
    4) 这些参数是系统能够运行的状态；他们并不代表满足性能所要求的的环境稳定性。

  • 产品介绍手册 +


    pdf download icon OptoWave 40 – 英语

    pdf download icon OptoWave 40 – 中文